狭长CsI（T1）闪烁体发光效率的研究

提出了基于狭长CsI（T1）闪烁体和面阵CCD器件，采用光纤和光纤面板进行光耦合及传输，以扇形柬线阵扫描方式实现对X射线探测与成像的工业X—CT系统探测器方案．基此，通过物理分析及数学建模，利用Madab模拟研究了X光能量小于450keV时狭长CsI（T1）闪烁体的发光效率等性能指标．研究结果表明：当光电吸收截面μph和康普顿吸收截面μc分别为0．000313和0．0000295、反射层反射系数R和衬底反射系数Rs分别取0．95和0．8、荧光线性吸收系数σ取0．000222μm^-1时，得到狭长CsI（T1）闪烁晶体的长度l、高度h和宽度ω取值范围分别是926～4512μm、242～5000μm和242～5000μm的结论．在此范围内，既可使闪烁晶体有较好的空间分辨率又可获得最高的发光效率．